产品展示
  • ETS冷热冲击试验箱

    此种试验的目的在决定与材料对瞬间*温或极低温的抵抗力,这种情况也类似不连续地处于低温或高温中的情形,冷热冲击能使各种物品在Z短时间内完成测试。在热振中产生的化学变化或物理伤害是由热胀冷缩改变或其他物理性质的改变而引起,采用TST系统,各类产品才能获得*的信赖。热振的效果包括成品裂开或破屑及位移等所引起电学变化。*:

    更新时间:2024-04-16

  • EST高低温冲击试验箱

    高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。

    更新时间:2024-04-16

  • ETT两箱提篮冷热冲击试验箱

    提篮冷热冲击试验箱,分为3箱式和2箱式主要区别在于试验方式和内部结构不同,产品符合标准为:GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备, 用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的性能

    更新时间:2024-04-16

  • 三箱冷热冲击箱

    三箱冷热冲击箱适用的对象包括金属、汽车电子、橡胶、电工电子、IC芯片、LED照明、军工、航空航天等材料检测分析的重要仪器设备,测试结果可作为其产品改进的重要依据或参考。

    更新时间:2024-04-16

  • ETT两箱式高低温冲击箱

    冷热冲击试验箱分为两厢式和三厢式,区别在于试验方式和内部结构不同,产品符合标准为:GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备, 用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的性能。

    更新时间:2024-04-16

  • ETT两箱式冷热冲击试验箱

    冷热冲击试验箱分为两厢式和三厢式,区别在于试验方式和内部结构不同,产品符合标准为:GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备, 用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能

    更新时间:2024-04-16

  • 冷热冲击试验箱

    冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。

    更新时间:2024-04-16

  • ETS北京,宁波,杭州,郑州冷热冲击试验箱

    冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。全国统一客户:

    更新时间:2024-04-16

  • ETS高低温冲击试验箱

    高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。全国统一客户:

    更新时间:2024-04-16

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